Kraftmikroskopie

Krạft|mi|k|ro|s|ko|pie, hier Rasterkraftmikroskopie [↑ Kraft] Abk.: SFM; Syn.: Atom-Kraftmikroskopie (AFM): eine mikroskopische Technik, mit der metallische oder nichtmetallische einschließlich biologischer Oberflächen bis in atomare Größenbereiche (nm) untersucht werden können. Dabei wird eine feine Spitze (Krümmungsradius 10–50 nm) berührend über die Probenoberfläche geführt. Gemessen wird die Kraft, mit der die – an einer elastischen Blattfeder geführte – Spitze von einzelnen Atomen oder Molekülen angezogen oder abgestoßen wird.